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日本アグフア・ゲバルト（株）は，CRシステムの新製品「DX-S」を発売した。DX-Sは，新タイプのイメージングプレートとラインスキャン方式のプレート読み取り技術の開発により，従来の約2倍のDQE（量子検出効率）を実現し，X線撮影時の照射線量低減を可能にしている。
●主な特長
〈Directrix Detector（新型イメージングプレート）〉
蛍光体に臭化セシウムを用いて金属板に蒸着させた新型イメージングプレートを採用。これにより，X線の吸収性が高くなった。また，ライトガイド効果により，読み取りレーザーによる発光の効率が向上して散乱線が減少した。DQEは，従来型プレートの約2倍（同社比）となっている。
〈Scanhead（ラインスキャン読み取り）〉
装置の小型化と，プレートスキャンスピードの大幅な向上をめざし，新型のラインスキャン読み取り装置を開発した。同装置は，レーザー発光部分と読み取りセンサー部分を一列に配置している。これにより，半切サイズのプレートでカセッテの挿入から読み取り，消去を終えてカセッテに戻るまでの時間を約30秒に短縮した。
〈コンパクトなカートデザイン〉
システム一式を，コンパクトなカートに搭載しているため，省スペースを実現したほか，オプションのX線遮蔽板の使用により撮影室内への設置も容易。
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